解析冠層分析儀的7大特點(diǎn)
　　冠層分析儀可測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射（PAR）等。廣泛應(yīng)用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析以及農(nóng)林業(yè)科研工作。
　　冠層分析儀的特點(diǎn)具體如下：
　　1.無損測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角以及冠層結(jié)構(gòu)。
　　2.探頭體積小巧，裝在測杠上可任意角度測量植物冠層結(jié)構(gòu)。
　　3.冠層分析儀攝像頭可自動保持水平。
　　4.USB接口，測量時(shí)連接電腦實(shí)時(shí)查看圖像，即時(shí)選取所需圖像并保存。
　　5.外接大容量鋰電池，適用于野外工作和長時(shí)間測量。
　　6.測量冠層不同高度，可得到群體內(nèi)光透過率和葉面積指數(shù)垂直分布圖。
　　7.冠層分析儀配有分析軟件，有選擇所需圖像區(qū)域的功能(天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū))，可屏蔽不合理的冠層部分，僅對有效圖像區(qū)域進(jìn)行分析，使測量數(shù)據(jù)更加。